Using matrix peaks to map topography : Increased mass resolution and enhanced sensitivity in chemical imaging /

Zapisane w:

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy:	Eijkel, Gert B., Heeren, Ron M. A., Koster, Sander., Luxembourg, Stefan L., McDonnell, Liam A., Mize, Todd H., Rooij, Nico F. de., Verpoorte, Elisabeth.
Format:	Artykuł
Język:	English
Hasła przedmiotowe:	Deconvolution Imaging Principal component analysis Secondary ion mass spectrometry Sensitivity Topography
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Opis
Nie ma specyfikacji.

Podobne zapisy