Quantitative elemental analysis for rhodium and palladium in minerals by time-of-flight resonance ionization mass spectrometry /
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | Dimov, S. S. |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | Chryssoulis, S. L., Lipson, R. H. |
| বিন্যাস: | প্রবন্ধ |
| ভাষা: | English |
| বিষয়গুলি: | |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Resonance ionization spectroscopy 2000 : laser ionization and applications incorporating RIS, 10th international symposium, Knoxville, Tennessee, 8-12 October 2000 /
প্রকাশিত: (2001) -
Resonance ionization spectroscopy 2000 : laser ionization and applications incorporating RIS, 10th international symposium, Knoxville, Tennessee, 8-12 October 2000 /
প্রকাশিত: (2001) - Desorption/ionization on silicon time-of-flight/time-of-flight mass spectrometry /
-
Application of femtosecond laser ablation time-of-flight mass spectrometry to in-depth multilayer analysis /
অনুযায়ী: Margetic, Vanja. - Quantitative analysis of synthetic polymers using matrix-assisted laser desorption/ionization time-of-flight mass spectrometry /