Resonance and nonresonant laser ionization of sputtered uranium atoms from thin films and single microparticles : Evaluation of a combined system for particle trace analysis /

Gardado en:

Detalles Bibliográficos
Outros autores:	Benninghoven, Alfred., Betti, Maria., Erdmann, Nicole., Gruning, Carsten., Kollmer, Felix., Lievens, Peter., Philipsen, Vicky., Silverans, Roger E., Vandeweert, Erno.
Formato:	Artigo
Idioma:	English
Những chủ đề:	Autoionizing state Microparticle Multiphoton ionization Particle size Resonance ionization mass spectroscopy Thin films Trace analysis Uranium Uranium oxide
Các nhãn:	Engadir etiqueta Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Títulos similares