Material investigation and analysis using characteristic X-ray /
Zapisane w:
1. autor: | Oh, G. |
---|---|
Kolejni autorzy: | Lee, W. |
Format: | Artykuł |
Język: | English |
Hasła przedmiotowe: | |
Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Podobne zapisy
-
Introduction to X-ray spectrometric analysis
od: Bertin, Eugene P
Wydane: (2013) -
An introduction to X-ray crystallography
od: Woolfson, M M
Wydane: (2013) -
Handbook of X-ray spectrometry
od: VanGriekan, ReneE, i wsp.
Wydane: (2013) -
Elements of modern X-ray physics /
od: Als-Nielsen, Jens, 1937-
Wydane: (2001) -
The fundamentals of X-rays and radium physics
od: Selman, Joseph
Wydane: (1972)