High resolution transmission electron microscopy: an important tool for nano-scaled materials research
שמור ב:
| שפה: | vie |
|---|---|
| גישה מקוונת: | https://dlib.udn.vn/module/chi-tiet-sach?RecordID=8671 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Công nghệ thông tin và Học liệu số, Đại học Đà Nẵng |
|---|
פריטים דומים
-
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science
מאת: David, B. Williams
יצא לאור: (2009) -
Application of high-angle annular dark field scanning transmission electron microscopy, scanning transmission electron microscopy-energy dispersive X-ray spectrometry, energy-filtered transmission electron microscopy to the characterization of nanoparticles in the environment /
מאת: Utsunomiya, Satoshi. -
Transmission electron microscopy : A textbook for materials science. Part 2, Diffraction
מאת: Williams, David B
יצא לאור: (2009) -
Transmission electron microscopy : A textbook for materials science. Part 1, Basic
מאת: Williams, David B
יצא לאור: (2009) -
Transmission electron microscopy : A textbook for materials science. Part 4, Spectrometry
מאת: Williams, David B
יצא לאור: (2009)