Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
Uloženo v:
Hlavní autoři: | Murakami, Youichi, Ishihara, Sumio |
---|---|
Médium: | Kniha |
Jazyk: | English |
Vydáno: |
Springer Berlin Heidelberg
2020
|
Témata: | |
On-line přístup: | http://doi.org/10.1007/978-3-662-53227-0 https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/101955 |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Podobné jednotky
-
Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
Autor: Veselý, Jozef
Vydáno: (2020) -
Magnetic Resonance of Semiconductors and Their Nanostructures. 1st ed. 2017
Autor: Baranov, Pavel G., a další
Vydáno: (2020) -
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
Autor: Goldstein, Joseph I., a další
Vydáno: (2020) -
Designing of Elastomer Nanocomposites: From Theory to Applications. 1st ed. 2017
Autor: Stöckelhuber, Klaus Werner, a další
Vydáno: (2020) -
Solid-State Physics. 4th ed.
Autor: Ibach, Harald, a další
Vydáno: (2020)