Nghiên cứu về Ft và Fmax trong Si và Si1-xGex dựa trên vật liệu đơn và đôi theo kênh của kép FETs cho các ứng dụng RF

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Formaat: Artikel
Taal:Vietnamese
Gepubliceerd in: 2024
Onderwerpen:
Online toegang:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/229938
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt