Đo lường kiểm tra biên dạng chi tiết phay CNC bằng ánh sáng cấu trúc.
Với sự phát triển của khoa học và công nghệ, đo lường quang học đang được quan tâm và ứng dụng rộng rãi nhằm đáp ứng yêu cầu đo nhanh và giảm thiểu các sai số trong quá trình đo kiểm. Bài báo đưa ra kết quả so sánh giữa hai phương pháp đo (bằng ánh sáng cấu trúc và bằng thiết bị CMM) cho các chi tiế...
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | , |
---|---|
Định dạng: | Bài viết |
Ngôn ngữ: | Vietnamese |
Được phát hành: |
2025
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/258175 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Tóm tắt: | Với sự phát triển của khoa học và công nghệ, đo lường quang học đang được quan tâm và ứng dụng rộng rãi nhằm đáp ứng yêu cầu đo nhanh và giảm thiểu các sai số trong quá trình đo kiểm. Bài báo đưa ra kết quả so sánh giữa hai phương pháp đo (bằng ánh sáng cấu trúc và bằng thiết bị CMM) cho các chi tiết phay CNC. Kết quả thu được cho thấy, có thể ứng dụng phương pháp đo bằng ánh sáng cấu trúc đối với các chi tiết phay CNC có hình dạng phức tạp và giảm thiểu được thời gian đo kiểm tra trong quá trình gia công. |
---|