Đo lường kiểm tra biên dạng chi tiết phay CNC bằng ánh sáng cấu trúc.
Với sự phát triển của khoa học và công nghệ, đo lường quang học đang được quan tâm và ứng dụng rộng rãi nhằm đáp ứng yêu cầu đo nhanh và giảm thiểu các sai số trong quá trình đo kiểm. Bài báo đưa ra kết quả so sánh giữa hai phương pháp đo (bằng ánh sáng cấu trúc và bằng thiết bị CMM) cho các chi tiế...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , |
|---|---|
| Định dạng: | Bài viết |
| Ngôn ngữ: | Vietnamese |
| Được phát hành: |
2025
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/258175 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|