Đo lường kiểm tra biên dạng chi tiết phay CNC bằng ánh sáng cấu trúc.

Với sự phát triển của khoa học và công nghệ, đo lường quang học đang được quan tâm và ứng dụng rộng rãi nhằm đáp ứng yêu cầu đo nhanh và giảm thiểu các sai số trong quá trình đo kiểm. Bài báo đưa ra kết quả so sánh giữa hai phương pháp đo (bằng ánh sáng cấu trúc và bằng thiết bị CMM) cho các chi tiế...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Ngô, Anh Vũ, Bùi, Vũ Hùng
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:Vietnamese
Được phát hành: 2025
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/258175
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Những quyển sách tương tự