Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today’s most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energ...
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Springer
2016
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/59934 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!