Advanced Computing in Electron Microscopy

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Advanced Computing in Electron Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Kirkland, Earl J.
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Springer International Publishing 2020
Schlagworte:	Physics Spectroscopy and Microscopy Image Processing and Computer Vision Characterization and Evaluation of Materials
Online Zugang:	https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/90772
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Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

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