Advanced Computing in Electron Microscopy
שמור ב:
מחבר ראשי: | Kirkland, Earl J. |
---|---|
פורמט: | ספר |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Springer International Publishing
2020
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | https://scholar.dlu.edu.vn/thuvienso/handle/DLU123456789/90772 |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
פריטים דומים
-
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. 4th ed.
מאת: Goldstein, Joseph I., et al.
יצא לאור: (2020) -
Field Emission Scanning Electron Microscopy. 1st ed. 2018
מאת: Brodusch, Nicolas, et al.
יצא לאור: (2020) -
Springer Handbook of Microscopy. 1st ed. 2019
מאת: Hawkes, Peter W., et al.
יצא לאור: (2020) -
Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms. 1st ed. 2017
מאת: Veselý, Jozef
יצא לאור: (2020) -
Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems. 1st ed. 2017
מאת: Murakami, Youichi, et al.
יצא לאור: (2020)