Notice: unserialize(): Error at offset 0 of 7160 bytes in C:\vufind\module\VuFind\src\VuFind\Connection\Wikipedia.php on line 111

Notice: Trying to access array offset on value of type bool in C:\vufind\module\VuFind\src\VuFind\Connection\Wikipedia.php on line 358

Notice: Trying to access array offset on value of type null in C:\vufind\module\VuFind\src\VuFind\Connection\Wikipedia.php on line 358

Warning: Invalid argument supplied for foreach() in C:\vufind\module\VuFind\src\VuFind\Connection\Wikipedia.php on line 358

Notice: Trying to access array offset on value of type null in C:\vufind\module\VuFind\src\VuFind\Connection\Wikipedia.php on line 193

Notice: Trying to access array offset on value of type null in C:\vufind\module\VuFind\src\VuFind\Connection\Wikipedia.php on line 401

Notice: Trying to access array offset on value of type null in C:\vufind\module\VuFind\src\VuFind\Connection\Wikipedia.php on line 228
Mostrando 1 - 4 resultados de 4 para a busca 'Ji-Ting Liang', tempo de busca: 0.08s Refinar Resultados
1
A source-side injection lucky electron model for Schottky barrier metal-oxide-semiconductor devices
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
Obter o texto integral
Salvar na lista
Na minha lista:
2
Effects of Edge Thinning on Fowler-Nordheim Tunneling Current of NAND-Type Flash Memory Cells
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
Obter o texto integral
Salvar na lista
Na minha lista:
3
Schottky barrier silicon nanowire SONOS memory with ultralow programming and erasing voltages
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
Obter o texto integral
Salvar na lista
Na minha lista:
4
Impact of edge encroachment on programming and erasing gate current in NAND-type Flash memory
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
Obter o texto integral
Salvar na lista
Na minha lista:
Ferramentas de busca: Obter Feed RSS — Enviar busca por e-mail