X-ray scattering from semiconductors
This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for inter...
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Fewster, Paul F. |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | Undetermined |
Được phát hành: |
London
Imperial College Press
2000
|
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
---|
Những quyển sách tương tự
-
X-ray scattering from semiconductors
Bỡi: Fewster, Paul F
Được phát hành: (2000) -
X-ray scattering from semiconductors /
Bỡi: Fewster, Paul F.
Được phát hành: (2000) -
X-ray scattering from semiconductors /
Bỡi: Fewster, Paul F.
Được phát hành: (2000) -
X-Ray Scattering from Semiconductors
Bỡi: Fewster, Paul F
Được phát hành: (2000) -
Methods of X - Ray and neutron scattering in polymer science
Bỡi: Roe, Ryong-Joon
Được phát hành: (2000)