X-ray scattering from semiconductors

This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for inter...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Fewster, Paul F.
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:Undetermined
Được phát hành: London Imperial College Press 2000
Những chủ đề:
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ

Những quyển sách tương tự