X-ray scattering from semiconductors
This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for inter...
Gardado en:
| Autor Principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Idioma: | Undetermined |
| Publicado: |
London
Imperial College Press
2000
|
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Search Result 1
por Fewster, Paul F
Publicado 2000
Publicado 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Học liệu Trường Đại học Thủ Dầu Một
Ligazón do recurso
Search Result 2
Search Result 3
Search Result 4
Search Result 5
Search Result 6
por Fewster, Paul F
Publicado 2000
Publicado 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Thư viện - Trường Đại học Công nghiệp TP. Hồ Chí Minh