X-ray scattering from semiconductors
This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for inter...
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Llibre |
| Idioma: | Undetermined |
| Publicat: |
London
Imperial College Press
2000
|
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Search Result 1
per Fewster, Paul F
Publicat 2000
Publicat 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Học liệu Trường Đại học Thủ Dầu Một
Obtenir text complet
Search Result 2
Search Result 3
Search Result 4
Search Result 5
Search Result 6
per Fewster, Paul F
Publicat 2000
Publicat 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Thư viện - Trường Đại học Công nghiệp TP. Hồ Chí Minh