X-ray scattering from semiconductors
This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for inter...
Sparad:
| Huvudupphovsman: | |
|---|---|
| Materialtyp: | Bok |
| Språk: | Undetermined |
| Publicerad: |
London
Imperial College Press
2000
|
| Ämnen: | |
| Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Search Result 1
av Fewster, Paul F
Publicerad 2000
Publicerad 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Học liệu Trường Đại học Thủ Dầu Một
Hämta fulltext
Search Result 2
Search Result 3
Search Result 4
Search Result 5
Search Result 6
av Fewster, Paul F
Publicerad 2000
Publicerad 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Thư viện - Trường Đại học Công nghiệp TP. Hồ Chí Minh