X-ray scattering from semiconductors
This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for inter...
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
London
Imperial College Press
2000
|
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Search Result 1
von Fewster, Paul F
Veröffentlicht 2000
Veröffentlicht 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Học liệu Trường Đại học Thủ Dầu Một
Volltext
Search Result 2
Search Result 3
Search Result 4
Search Result 5
Search Result 6
von Fewster, Paul F
Veröffentlicht 2000
Veröffentlicht 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Thư viện - Trường Đại học Công nghiệp TP. Hồ Chí Minh