X-ray scattering from semiconductors
This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for inter...
Đã lưu trong:
| Príomhúdar: | |
|---|---|
| Formáid: | Leabhar |
| Teanga: | Undetermined |
| Foilsithe: |
London
Imperial College Press
2000
|
| Ábhair: | |
| Clibeanna: |
Cuir Clib Leis
Gan Chlibeanna, Bí ar an gcéad duine leis an taifead seo a chlibeáil!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Search Result 1
le Fewster, Paul F
Foilsithe 2000
Foilsithe 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Học liệu Trường Đại học Thủ Dầu Một
Faigh an téacs iomlán
Search Result 2
Search Result 3
Search Result 4
Search Result 5
Search Result 6
le Fewster, Paul F
Foilsithe 2000
Foilsithe 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Thư viện - Trường Đại học Công nghiệp TP. Hồ Chí Minh