X-ray scattering from semiconductors
This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for inter...
Kaydedildi:
| Yazar: | |
|---|---|
| Materyal Türü: | Kitap |
| Dil: | Undetermined |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
London
Imperial College Press
2000
|
| Konular: | |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Search Result 1
Yazar: Fewster, Paul F
Baskı/Yayın Bilgisi 2000
Baskı/Yayın Bilgisi 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Học liệu Trường Đại học Thủ Dầu Một
Tam Metin Erişim
Search Result 2
Search Result 3
Search Result 4
Search Result 5
Search Result 6
Yazar: Fewster, Paul F
Baskı/Yayın Bilgisi 2000
Baskı/Yayın Bilgisi 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Thư viện - Trường Đại học Công nghiệp TP. Hồ Chí Minh