X-ray scattering from semiconductors
This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for inter...
Đã lưu trong:
| 主要作者: | |
|---|---|
| 格式: | 圖書 |
| 語言: | Undetermined |
| 出版: |
London
Imperial College Press
2000
|
| 主題: | |
| 標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Search Result 1
由 Fewster, Paul F
出版 2000
出版 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Học liệu Trường Đại học Thủ Dầu Một
獲取全文
Search Result 2
Search Result 3
Search Result 4
Search Result 5
Search Result 6
由 Fewster, Paul F
出版 2000
出版 2000
Thư viện lưu trữ:
Trung tâm Thư viện - Trường Đại học Công nghiệp TP. Hồ Chí Minh