X-ray scattering from semiconductors
This text provides a description of the techniques involved in obtaining that information, including X-ray diffractometers and their associated instrument functions, data collection methods, and the simulation of the diffraction patterns observed. Also presented are examples and procedures for inter...
Đã lưu trong:
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Format: | Bog |
| Sprog: | Undetermined |
| Udgivet: |
London
Imperial College Press
2000
|
| Fag: | |
| Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
| Thư viện lưu trữ: | Trung tâm Học liệu Trường Đại học Cần Thơ |
|---|
Vær først til at give en kommentarø!