Multiple-Beam Interferometry of Surfaces and Films /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Tolansky, S.
Formato: Sách giấy
Idioma:English
Publicado: Oxford : The Clarendon Press, 1948.
Các nhãn: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt