Multiple-Beam Interferometry of Surfaces and Films /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | Tolansky, S. |
|---|---|
| Médium: | Sách giấy |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Oxford :
The Clarendon Press,
1948.
|
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Podobné jednotky
-
Optical interferometry
Autor: Hariharan, P.
Vydáno: (2003) -
Satellite Radar Interferometry
Autor: Ketelaar, V. B. H. (Gini)
Vydáno: (2020) -
An introduction to optical stellar interferometry
Autor: Labeyrie, A, a další
Vydáno: (2013) -
Engineering thin films and nanostructures with ion beams
Autor: Knystautas, Emile
Vydáno: (2005) -
Engineering thin films and nanostructures with ion beams
Autor: Knystautas, Emile
Vydáno: (2005)