Multiple-Beam Interferometry of Surfaces and Films /
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | Tolansky, S. |
|---|---|
| التنسيق: | Sách giấy |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Oxford :
The Clarendon Press,
1948.
|
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
مواد مشابهة
-
Optical interferometry
بواسطة: Hariharan, P.
منشور في: (2003) -
Satellite Radar Interferometry
بواسطة: Ketelaar, V. B. H. (Gini)
منشور في: (2020) -
An introduction to optical stellar interferometry
بواسطة: Labeyrie, A, وآخرون
منشور في: (2013) -
Engineering thin films and nanostructures with ion beams
بواسطة: Knystautas, Emile
منشور في: (2005) -
Engineering thin films and nanostructures with ion beams
بواسطة: Knystautas, Emile
منشور في: (2005)