Multiple-Beam Interferometry of Surfaces and Films /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Tolansky, S.
Formaat: Sách giấy
Taal:English
Gepubliceerd in: Oxford : The Clarendon Press, 1948.
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Gelijkaardige items