Multiple-Beam Interferometry of Surfaces and Films /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Tolansky, S.
Формат: Sách giấy
Язык:English
Опубликовано: Oxford : The Clarendon Press, 1948.
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt