Multiple-Beam Interferometry of Surfaces and Films /

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Glavni autor: Tolansky, S.
Format: Sách giấy
Jezik:English
Izdano: Oxford : The Clarendon Press, 1948.
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt