Multiple-Beam Interferometry of Surfaces and Films /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Tolansky, S.
Formatua: Sách giấy
Hizkuntza:English
Argitaratua: Oxford : The Clarendon Press, 1948.
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt