Multiple-Beam Interferometry of Surfaces and Films /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Tolansky, S.
Médium: Sách giấy
Jazyk:English
Vydáno: Oxford : The Clarendon Press, 1948.
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt