Ohno's model revisited : measuring the frequency of potentially adaptive mutations under various mutational drifts /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Bershtein, Shimon.
Andere auteurs: Tawfik, Dan S.
Formaat: Artikel
Taal:English
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt