Ohno's model revisited : measuring the frequency of potentially adaptive mutations under various mutational drifts /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Bershtein, Shimon.
Outros autores: Tawfik, Dan S.
Formato: Artigo
Idioma:English
Những chủ đề:
Các nhãn: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt