Exportação concluída — 

Ohno's model revisited : measuring the frequency of potentially adaptive mutations under various mutational drifts /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Bershtein, Shimon.
Diğer Yazarlar: Tawfik, Dan S.
Materyal Türü: Makale
Dil:English
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt