اكتمل التصدير — 

Ohno's model revisited : measuring the frequency of potentially adaptive mutations under various mutational drifts /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Bershtein, Shimon.
مؤلفون آخرون: Tawfik, Dan S.
التنسيق: مقال
اللغة:English
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt