Ohno's model revisited : measuring the frequency of potentially adaptive mutations under various mutational drifts /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Bershtein, Shimon.
Kolejni autorzy: Tawfik, Dan S.
Format: Artykuł
Język:English
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt