Ohno's model revisited : measuring the frequency of potentially adaptive mutations under various mutational drifts /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Bershtein, Shimon.
Другие авторы: Tawfik, Dan S.
Формат: Статья
Язык:English
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt