Ohno's model revisited : measuring the frequency of potentially adaptive mutations under various mutational drifts /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Bershtein, Shimon.
Další autoři: Tawfik, Dan S.
Médium: Článek
Jazyk:English
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt