Atomic-scale templates patterned by ultrahigh vacuum scanning tunneling microscopy on silicon /

Mã QR

Atomic-scale templates patterned by ultrahigh vacuum scanning tunneling microscopy on silicon /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Walsh, Michael A.
מחברים אחרים:	Hersam, Mark C.
פורמט:	Bài viết
שפה:	English
נושאים:	Feedback-controlled lithography Nanoelectronics Nanolithography Surface chemistry
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

פריטים דומים

Controlled Synthesis and Scanning Tunneling Microscopy Study of Graphene and Graphene-Based Heterostructures. 1st ed. 2018
מאת: Liu, Mengxi
יצא לאור: (2020)

Methods and materials in microelectronic technology
מאת: Bargon, Joachim
יצא לאור: (1984)

Direct observation of chiral oligo(p-phenylenevinylene)s with scanning tunneling microscopy /

Scanning electrochemical microscopy. 46. Shielding effects on reversible and quasireversible reactions /
מאת: Zoski, Cynthia G.

Scanning electrochemical microscopy. 47. Imaging electrocatalytic activity for oxygen reduction in an acidic medium by the tip generation-substrate collection mode /
מאת: Fernandez, Jose L.

Scanning tunneling microscopy with chemically modified gold tips : In situ reestablishment of chemical contrast /
מאת: Olson, Joel A.

A scanning tunnelling microscopy insight into the preparation of carbon molecular sieves by chemical vapour deposition /

Microfluidic device for single-cell analysis /

Scanning electrochemical microscopy /
יצא לאור: (2012)

Scanning electrochemical microscopy-based drug sensitivity test for a cell culture integrated in silicon microstructures /

Nanoimprint lithography materials development for semiconductor device fabrication /

Confocal Raman Microscopy
מאת: Toporski, Jan, et al.
יצא לאור: (2020)

Coupled Multiscale Simulation and Optimization in Nanoelectronics
מאת: Günther, Michael
יצא לאור: (2016)

Kelvin Probe Force Microscopy
מאת: Sadewasser, Sascha, et al.
יצא לאור: (2020)

Scanning Tunneling Spectroscopy of Magnetic Bulk Impurities: From a Single Kondo Atom Towards a Coupled System
מאת: Prüser, Henning
יצא לאור: (2016)

Investigation of calcium carbonate scale inhibition and scale morphology by scanning electron microscopy = Nghiên cứu khả năng ức chế và hình thái cặn canxi cacbonat bằng phương pháp hiển vi điện tử quét /
מאת: Nguyen Thi Phuong Phong.

Introduction : The role of oral and written corrective feedback in SLA /
מאת: Sheen, Younghee.

Oral feedback in classroom SLA : A meta-analysis /
מאת: Lyster, Roy.

Students’ preferences on oral corrective feedback in speaking classes at tertiary education
מאת: Liêng Hót, Lê Rutơ
יצא לאור: (2024)

Scanning electrochemical microscopy. 49. Gas-phase scanning electrochemical microscopy measurements with a clark oxygen ultramicroelectrode /
מאת: Carano, Maurizio.

Nanoscale CMOS VLSI circuits
מאת: Kundu, Sandip

Atlas of scanning electron microscopy in microbiology
יצא לאור: (1976)

Scanning probe microscopies beyond imaging :
יצא לאור: (2006)

Noncontact Atomic Force Microscopy
מאת: Morita, Seizo, et al.
יצא לאור: (2020)

New horizons of applied scanning electron microscopy
מאת: Shimizu, Kenichi
יצא לאור: (2010)

Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3
מאת: Bhushan, Bharat
יצא לאור: (2015)

Tính chất vận chuyển điện tử của Graphene nanoribbon thay đổi biên cấu trúc :
מאת: Nguyễn, Văn Út
יצא לאור: (2018)

Vận chuyển điện tử trong các cấu trúc Graphene nanoribbon kiểu Zigzag sai hỏng dạng lỗ Nano :
מאת: Bùi, Thái Học
יצא לאור: (2018)

Tính chất vận chuyển điện tử của Graphene nanoribbon pha tạp phức :
מאת: Võ, Trung Phúc
יצא לאור: (2018)

Feedback control systems
מאת: Phillips, Charles L
יצא לאור: (1996)

Design of feedback control systems
מאת: RAYMOND T STEFANI
יצא לאור: (2001)

Modern control systems
מאת: Dorf, Richard C.
יצא לאור: (2005)

Design of feedback control systems
מאת: Stefani, Raymond T.
יצא לאור: (2002)

Automatic control
מאת: Djaferis, Theodore E.
יצא לאור: (2000)

Analytic feedback system design
מאת: Dorato, Peter
יצא לאור: (2000)

Applied Scanning Probe Methods XII
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods XI
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods XIII
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods X
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)

Applied Scanning Probe Methods V
מאת: Bhushan, Bharat, et al.
יצא לאור: (2020)