Analysis of the influence of the address electrode width on high-speed addressing using the VT close curve and dynamic vdata margin /

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書誌詳細
第一著者: Kim, Yongduk.
その他の著者: Park, Sekwang.
フォーマット: 論文
言語:English
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
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