Analysis of the influence of the address electrode width on high-speed addressing using the VT close curve and dynamic vdata margin /
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| 1. Verfasser: | Kim, Yongduk. |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | Park, Sekwang. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Schlagworte: | |
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| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
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