NIST mixed stain study 3 : DNA quantitation accuracy and its influence on short tandem repeat multiplex signal intensity /

Tallennettuna:

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät:	Butler, John M., Duewer, David L., Kline, Margaret C., Redman, Janette W.
Aineistotyyppi:	Artikkeli
Kieli:	English
Aiheet:	Accuracy DNA Quantitative analysis Tandemly repeated sequence
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Kuvaus
Kuvausta ei saatavissa.

Samankaltaisia teoksia