NIST mixed stain study 3 : DNA quantitation accuracy and its influence on short tandem repeat multiplex signal intensity /

Bewaard in:

Bibliografische gegevens
Andere auteurs:	Butler, John M., Duewer, David L., Kline, Margaret C., Redman, Janette W.
Formaat:	Artikel
Taal:	English
Onderwerpen:	Accuracy DNA Quantitative analysis Tandemly repeated sequence
Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Omschrijving
Geen beschrijving beschikbaar.

Gelijkaardige items