NIST mixed stain study 3 : DNA quantitation accuracy and its influence on short tandem repeat multiplex signal intensity /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Butler, John M., Duewer, David L., Kline, Margaret C., Redman, Janette W.
Format: Artykuł
Język:English
Hasła przedmiotowe:
DNA
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt