导出完成 — 

Fault coverage-driven incremental test generation /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Simao, Adenilso.
Beste egile batzuk: Petrenko, Alexandre.
Formatua: Artikulua
Hizkuntza:English
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt