Fault coverage-driven incremental test generation /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Simao, Adenilso.
Tác giả khác: Petrenko, Alexandre.
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:English
Những chủ đề:
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
LEADER 00821nam a2200277 4500
001 DLU110129965
005 ##20111223
040 # # |a DLU  |b eng 
041 # # |a eng 
044 # # |a uk 
100 # # |a Simao, Adenilso. 
245 # # |a Fault coverage-driven incremental test generation /  |c Adenilso Simao, Alexandre Petrenko. 
653 # # |a Finite-state machines 
653 # # |a Software testing 
653 # # |a Test generation 
700 # # |a Petrenko, Alexandre.  
773 # # |t The Computer Journal  |g Vol. 53, no. 9 (November 2010), p. 1508-1522 
920 # # |a Phòng Tạp chí -- Trung tâm Thông tin - Thư viện Trường Đại học Đà Lạt 
994 # # |a DLU 
900 # # |a True 
911 # # |a Trương Bảo Trâm Anh 
925 # # |a G 
926 # # |a A 
927 # # |a BB 
980 # # |a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt