Fault coverage-driven incremental test generation /
Zapisane w:
| 1. autor: | Simao, Adenilso. |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | Petrenko, Alexandre. |
| Format: | Artykuł |
| Język: | English |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Podobne zapisy
-
Test selection for hierarchical and communicating finite state machines /
od: Ipate, Florentin. -
The effect of the distributed test architecture on the power of testing /
od: Hierons, R. M. -
Testing computer software
od: Kaner, Cem
Wydane: (1999) -
A Rich High-Order Mutation Testing Dataset for Software Fortification
od: Do, Van Nho, i wsp.
Wydane: (2025) -
Foundations of Software Testing: ISTQB Certification
od: Dorothy, Graham, i wsp.
Wydane: (2026)