Fault coverage-driven incremental test generation /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Simao, Adenilso.
Kolejni autorzy: Petrenko, Alexandre.
Format: Artykuł
Język:English
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Podobne zapisy