Fault coverage-driven incremental test generation /
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | Simao, Adenilso. |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | Petrenko, Alexandre. |
| বিন্যাস: | প্রবন্ধ |
| ভাষা: | English |
| বিষয়গুলি: | |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Test selection for hierarchical and communicating finite state machines /
অনুযায়ী: Ipate, Florentin. -
The effect of the distributed test architecture on the power of testing /
অনুযায়ী: Hierons, R. M. -
Testing computer software
অনুযায়ী: Kaner, Cem
প্রকাশিত: (1999) -
A Rich High-Order Mutation Testing Dataset for Software Fortification
অনুযায়ী: Do, Van Nho, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2025) -
Foundations of Software Testing: ISTQB Certification
অনুযায়ী: Dorothy, Graham, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2026)