Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Jakubowski, Andrzej.
מחברים אחרים:	Marciniak, Wieslaw., Przewlocki, Henryk M.
פורמט:	Sách giấy
יצא לאור:	Singapore ; Teaneck, NJ : World Scientific, c1991.
סדרה:	Advanced series in electrical and computer engineering ; vol. 7
נושאים:	Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction. Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

פריטים דומים