Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /
Сохранить в:
| Главный автор: | Jakubowski, Andrzej. |
|---|---|
| Другие авторы: | Marciniak, Wieslaw., Przewlocki, Henryk M. |
| Формат: | Sách giấy |
| Опубликовано: |
Singapore ; Teaneck, NJ :
World Scientific,
c1991.
|
| Серии: | Advanced series in electrical and computer engineering ;
vol. 7 |
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Схожие документы
-
VLSI technology
по: Sze
Опубликовано: (1983) -
VLSI system design :
по: Muroga, Saburo
Опубликовано: (1982) -
Hardware and software concepts in VLSI
по: Rabbat, Guy
Опубликовано: (1983) -
VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
по: Parhi, Keshab K., 1957-
Опубликовано: (1999) -
Low-Power VLSI Circuits and Systems
по: Pal, Ajit
Опубликовано: (2015)


