Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | Jakubowski, Andrzej. |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | Marciniak, Wieslaw., Przewlocki, Henryk M. |
| Μορφή: | Sách giấy |
| Έκδοση: |
Singapore ; Teaneck, NJ :
World Scientific,
c1991.
|
| Σειρά: | Advanced series in electrical and computer engineering ;
vol. 7 |
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Παρόμοια τεκμήρια
-
VLSI technology
ανά: Sze
Έκδοση: (1983) -
VLSI system design :
ανά: Muroga, Saburo
Έκδοση: (1982) -
Hardware and software concepts in VLSI
ανά: Rabbat, Guy
Έκδοση: (1983) -
VLSI digital signal processing systems : design and implementation /
ανά: Parhi, Keshab K., 1957-
Έκδοση: (1999) -
Low-Power VLSI Circuits and Systems
ανά: Pal, Ajit
Έκδοση: (2015)


