Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /

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Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /

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Autore principale:	Jakubowski, Andrzej.
Altri autori:	Marciniak, Wieslaw., Przewlocki, Henryk M.
Natura:	Sách giấy
Pubblicazione:	Singapore ; Teaneck, NJ : World Scientific, c1991.
Serie:	Advanced series in electrical and computer engineering ; vol. 7
Soggetti:	Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction. Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
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Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

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