Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /
Đã lưu trong:
Tác giả chính: | Jakubowski, Andrzej. |
---|---|
Tác giả khác: | Marciniak, Wieslaw., Przewlocki, Henryk M. |
Định dạng: | Sách giấy |
Được phát hành: |
Singapore ; Teaneck, NJ :
World Scientific,
c1991.
|
Loạt: | Advanced series in electrical and computer engineering ;
vol. 7 |
Những chủ đề: | |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
VLSI technology
Bỡi: Sze
Được phát hành: (1983) -
VLSI system design :
Bỡi: Muroga, Saburo
Được phát hành: (1982) -
Hardware and software concepts in VLSI
Bỡi: Rabbat, Guy
Được phát hành: (1983) -
VLSI technology fundamentals and applications
Bỡi: Tarui, Yasuo
Được phát hành: (1986) -
Principles of CMOS VLSI design :
Bỡi: Weste, Neil H. E.
Được phát hành: (1985)