Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Jakubowski, Andrzej.
Другие авторы: Marciniak, Wieslaw., Przewlocki, Henryk M.
Формат: Sách giấy
Опубликовано: Singapore ; Teaneck, NJ : World Scientific, c1991.
Серии:Advanced series in electrical and computer engineering ; vol. 7
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Схожие документы