Resonance and nonresonant laser ionization of sputtered uranium atoms from thin films and single microparticles : Evaluation of a combined system for particle trace analysis /

Zapisane w:

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy:	Benninghoven, Alfred., Betti, Maria., Erdmann, Nicole., Gruning, Carsten., Kollmer, Felix., Lievens, Peter., Philipsen, Vicky., Silverans, Roger E., Vandeweert, Erno.
Format:	Artykuł
Język:	English
Hasła przedmiotowe:	Autoionizing state Microparticle Multiphoton ionization Particle size Resonance ionization mass spectroscopy Thin films Trace analysis Uranium Uranium oxide
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Podobne zapisy