Resonance and nonresonant laser ionization of sputtered uranium atoms from thin films and single microparticles : Evaluation of a combined system for particle trace analysis /

Tallennettuna:

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät:	Benninghoven, Alfred., Betti, Maria., Erdmann, Nicole., Gruning, Carsten., Kollmer, Felix., Lievens, Peter., Philipsen, Vicky., Silverans, Roger E., Vandeweert, Erno.
Aineistotyyppi:	Artikkeli
Kieli:	English
Aiheet:	Autoionizing state Microparticle Multiphoton ionization Particle size Resonance ionization mass spectroscopy Thin films Trace analysis Uranium Uranium oxide
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Kuvaus
Kuvausta ei saatavissa.

Samankaltaisia teoksia