Resonance and nonresonant laser ionization of sputtered uranium atoms from thin films and single microparticles : Evaluation of a combined system for particle trace analysis /

Gorde:

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk:	Benninghoven, Alfred., Betti, Maria., Erdmann, Nicole., Gruning, Carsten., Kollmer, Felix., Lievens, Peter., Philipsen, Vicky., Silverans, Roger E., Vandeweert, Erno.
Formatua:	Artikulua
Hizkuntza:	English
Gaiak:	Autoionizing state Microparticle Multiphoton ionization Particle size Resonance ionization mass spectroscopy Thin films Trace analysis Uranium Uranium oxide
Etiketak:	Etiketa erantsi Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Deskribapena
Deskribapenik ez dago.

Antzeko izenburuak