Resonance and nonresonant laser ionization of sputtered uranium atoms from thin films and single microparticles : Evaluation of a combined system for particle trace analysis /

Spremljeno u:

Bibliografski detalji
Daljnji autori:	Benninghoven, Alfred., Betti, Maria., Erdmann, Nicole., Gruning, Carsten., Kollmer, Felix., Lievens, Peter., Philipsen, Vicky., Silverans, Roger E., Vandeweert, Erno.
Format:	Članak
Jezik:	English
Teme:	Autoionizing state Microparticle Multiphoton ionization Particle size Resonance ionization mass spectroscopy Thin films Trace analysis Uranium Uranium oxide
Oznake:	Dodaj oznaku Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Opis
Opis nije dostupan.

Similar Items