Resonance and nonresonant laser ionization of sputtered uranium atoms from thin films and single microparticles : Evaluation of a combined system for particle trace analysis /
Guardado en:
| Otros Autores: | Benninghoven, Alfred., Betti, Maria., Erdmann, Nicole., Gruning, Carsten., Kollmer, Felix., Lievens, Peter., Philipsen, Vicky., Silverans, Roger E., Vandeweert, Erno. |
|---|---|
| Formato: | Artículo |
| Lenguaje: | English |
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Ejemplares similares
-
Sự phụ thuộc tỷ lệ đồng vị của nguyên tố uranium vào hằng số đẹp alpha
por: Đồng, Thị Ngọc Hạnh
Publicado: (2008) -
Resonance ionization spectroscopy 2000 : laser ionization and applications incorporating RIS, 10th international symposium, Knoxville, Tennessee, 8-12 October 2000 /
Publicado: (2001) -
Resonance ionization spectroscopy 2000 : laser ionization and applications incorporating RIS, 10th international symposium, Knoxville, Tennessee, 8-12 October 2000 /
Publicado: (2001) -
Uranium enrichment and nuclear weapon proliferation
por: Krass, Allan S
Publicado: (2013) -
Uranium :
Publicado: (1973)