Resonance and nonresonant laser ionization of sputtered uranium atoms from thin films and single microparticles : Evaluation of a combined system for particle trace analysis /
Guardat en:
| Altres autors: | Benninghoven, Alfred., Betti, Maria., Erdmann, Nicole., Gruning, Carsten., Kollmer, Felix., Lievens, Peter., Philipsen, Vicky., Silverans, Roger E., Vandeweert, Erno. |
|---|---|
| Format: | Article |
| Idioma: | English |
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Ítems similars
-
Sự phụ thuộc tỷ lệ đồng vị của nguyên tố uranium vào hằng số đẹp alpha
per: Đồng, Thị Ngọc Hạnh
Publicat: (2008) -
Resonance ionization spectroscopy 2000 : laser ionization and applications incorporating RIS, 10th international symposium, Knoxville, Tennessee, 8-12 October 2000 /
Publicat: (2001) -
Resonance ionization spectroscopy 2000 : laser ionization and applications incorporating RIS, 10th international symposium, Knoxville, Tennessee, 8-12 October 2000 /
Publicat: (2001) -
Uranium enrichment and nuclear weapon proliferation
per: Krass, Allan S
Publicat: (2013) -
Uranium :
Publicat: (1973)