Resonance and nonresonant laser ionization of sputtered uranium atoms from thin films and single microparticles : Evaluation of a combined system for particle trace analysis /

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Další autoři:	Benninghoven, Alfred., Betti, Maria., Erdmann, Nicole., Gruning, Carsten., Kollmer, Felix., Lievens, Peter., Philipsen, Vicky., Silverans, Roger E., Vandeweert, Erno.
Médium:	Článek
Jazyk:	English
Témata:	Autoionizing state Microparticle Multiphoton ionization Particle size Resonance ionization mass spectroscopy Thin films Trace analysis Uranium Uranium oxide
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!

Podobné jednotky