Quantitative X-ray photoelectron spectroscopy and time-of-flight secondary ion mass spectrometry characterization of the components in DNA /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: May, Collin J.
Tác giả khác: Canavan, Heather E., Castner, David G.
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:English
Những chủ đề:
DNA
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
LEADER 01093nam a2200337 4500
001 DLU090097796
005 ##20091201
040 # # |a DLU  |b eng 
041 # # |a eng 
044 # # |a us 
100 # # |a May, Collin J.  
245 # # |a Quantitative X-ray photoelectron spectroscopy and time-of-flight secondary ion mass spectrometry characterization of the components in DNA /  |c Collin J. May, Heather E. Canavan, David G. Castner. 
653 # # |a Chemical sensors 
653 # # |a DNA 
653 # # |a Mass spectrometry 
653 # # |a Nucleoside 
653 # # |a Photoelectron spectrometry 
653 # # |a Principal component analysis 
653 # # |a X ray spectrometry 
700 # # |a Canavan, Heather E.  
700 # # |a Castner, David G. 
773 # # |t Analytical Chemistry  |g Vol. 76, no. 4 (February 2004), p. 1114-1122 
920 # # |a Phòng Tạp chí -- Trung tâm Thông tin - Thư viện Trường Đại học Đà Lạt 
994 # # |a DLU 
900 # # |a True 
911 # # |a Trương Bảo Trâm Anh 
925 # # |a G 
926 # # |a A 
927 # # |a BB 
980 # # |a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt