Quantitative X-ray photoelectron spectroscopy and time-of-flight secondary ion mass spectrometry characterization of the components in DNA /
Đã lưu trong:
| 主要作者: | |
|---|---|
| 其他作者: | , |
| 格式: | Bài viết |
| 语言: | English |
| 主题: | |
| 标签: |
添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|