Transport, correlation, and structural defects /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Другие авторы: Fritzsche, Hellmut.
Формат: Sách giấy
Опубликовано: Singapore ; Teaneck, N.J. : World Scientific, c1990.
Серии:Advances in disordered semiconductors ; v. 3
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
Описание
Объем:x, 305 p. : ill. ; 23 cm.
Библиография:Includes bibliographical references and indexes.
ISBN:9971509733
9971509741 (pbk.)