Transport, correlation, and structural defects /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Fritzsche, Hellmut.
Μορφή: Sách giấy
Έκδοση: Singapore ; Teaneck, N.J. : World Scientific, c1990.
Σειρά:Advances in disordered semiconductors ; v. 3
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt