Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Moon, Hyoung-Sik.
Outros autores: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Formato: Artigo
Idioma:English
Những chủ đề:
Các nhãn: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt