Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

Đã lưu trong:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Moon, Hyoung-Sik.
Andre forfattere: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
Format: Bài viết
Sprog:English
Fag:
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt