Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

में बचाया:
ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक: Moon, Hyoung-Sik.
अन्य लेखक: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
स्वरूप: लेख
भाषा:English
विषय:
टैग : टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt