Measurement of yield strength for electroplated nickel film using micro-cantilever /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Moon, Hyoung-Sik.
مؤلفون آخرون: Kim, Joo-Hwan., Kim, Young-Min.
التنسيق: مقال
اللغة:English
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt