Photoreflectance measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs heterostructure /

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Altri autori: Bae, In-Ho., Choi, Sang-Su., Kim, Ki-Hong., Park, Hun-Bo., Yu, Jae-In.
Natura: Articolo
Lingua:English
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

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