Photoreflectance measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs heterostructure /

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Autres auteurs: Bae, In-Ho., Choi, Sang-Su., Kim, Ki-Hong., Park, Hun-Bo., Yu, Jae-In.
Format: Article
Langue:English
Sujets:
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt