Photoreflectance measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs heterostructure /

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون:	Bae, In-Ho., Choi, Sang-Su., Kim, Ki-Hong., Park, Hun-Bo., Yu, Jae-In.
التنسيق:	مقال
اللغة:	English
الموضوعات:	Heterostructure
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

الوصف
الوصف غير متاح.

مواد مشابهة