Photoreflectance measurement in Si3N4/Al0.21Ga0.79As/GaAs heterostructure /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Bae, In-Ho., Choi, Sang-Su., Kim, Ki-Hong., Park, Hun-Bo., Yu, Jae-In.
Materyal Türü: Makale
Dil:English
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt