A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Blenkinsopp, Paul., Hill, Rowland., Lockyer, Nicholas., Vickerman, John C., Weibel, Daniel., Wong, Steve.
التنسيق: مقال
اللغة:English
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt