A C60 primary ion beam system for time of flight secondary ion mass spectrometry : Its development and secondary ion yield characteristics /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Blenkinsopp, Paul., Hill, Rowland., Lockyer, Nicholas., Vickerman, John C., Weibel, Daniel., Wong, Steve.
Formato: Artículo
Lenguaje:English
Materias:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt